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電子產(chǎn)品溫度老化測試高低溫試驗箱，是根據(jù)不同的需求而定的，溫度和規(guī)格尺寸，決定了該系列高低溫試驗箱的不同價格，詳細的高低溫試驗箱價格，我司市場部查詢。
電子產(chǎn)品溫度老化測試高低溫試驗箱
一、高低溫的用途
該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。
該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
電子產(chǎn)品溫度老化測試高低溫試驗箱
二、高低溫箱設(shè)備的主要技術(shù)指標
1 、溫度范圍：-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃～+100（150）℃
高低溫交變試驗機產(chǎn)品規(guī)格
型號:K-80T 內(nèi)型尺寸:D×W×H 400×500×400
型號:K-150T 內(nèi)型尺寸:D×W×H 500×600×500
型號:K-225T 內(nèi)型尺寸:D×W×H 500×750×600
型號:K-408T 內(nèi)型尺寸:D×W×H 600×850×800
型號:K-800T 內(nèi)型尺寸:D×W×H1000×1000×800
型號:K-1000T內(nèi)型尺寸: D×W×H1000×1000×1000
參照標準
GB/T5170.5-2008 濕熱試驗設(shè)備方法
GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008試驗A 低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B 高溫試驗方法
GB/T2423.3-2006試驗Ca 恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.4-2008試驗Db 交變濕熱試驗方法
相關(guān)產(chǎn)品
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